薄膜静电检测标准 检测项目测试 第三方防静电检测实验室

薄膜产生静电的原因：宏观原因，薄膜生产过程中，由于大量托辊、橡胶辊、金属辊的存在，导致绝缘的膜料大量摩擦，产生达十几万伏的高静电，严重影响产品质量与生产安全，因此在分切、复卷等应用中，须消除静电；微观原因，根据原子物理理论，电中性时物质处于电平衡状态，产生电子的得失，使物质失去电平衡，产生静电现象。

测定薄膜的抗静电有2种方法：

（1）测定薄膜的表面电阻;

表面电阻率性能等级电荷衰减时间(T 1/2)性能等级;10的11次方.

优CDT<1优SR<10(11)-10(12)

良CDT<1良SR<10(12)-10(13)

中CDT<1中SR<10(13)-10(14)

差CDT<1差

用表面电阻仪测试，表明电阻越大，抗静电效果就越差，最少要达到10的12次方欧姆。

（2）测定薄膜表层电荷的半衰期。

在实验室条件下，以电晕放电形式使塑料薄膜带电后，其静电半衰期的测试方法。本标准适用于塑料薄膜，其他绝缘材料制成的薄膜也可参照采用。

薄膜静电检测标准：

GB/T 16578.1-2008塑料薄膜和薄片耐撕裂性能的测定第1部分：裤形撕裂法

DIN 5510轨道交通工具材料防火性能测试

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